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  Morphological and elemental characterisation with the high-energy ion-nanoprobe LIPSION

Butz, T., Meinecke, C., Morawski, M., Reinert, T., Schwertner, M., Spemann, D., et al. (2005). Morphological and elemental characterisation with the high-energy ion-nanoprobe LIPSION. Applied Surface Science, 252(1), 43-48. doi:10.1016/j.apsusc.2005.01.101.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Butz, T.1, Autor
Meinecke, Ch.1, Autor
Morawski, Markus1, Autor           
Reinert, Tilo1, Autor           
Schwertner, M.1, Autor
Spemann, D.1, Autor
Vogt, J.1, Autor
Affiliations:
1Nukleare Festkörperphysik, Fakultät für Physik und Geowissenschaften, University of Leipzig, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Ion probe; Particle induced X-ray emission (PIXE); Rutherford backscattering spectrometry (RBS); Thin films
 Zusammenfassung: This contribution deals with the morphological and elemental characterisation with high--energy (MeV) focused ion beams (in particular protons) with special emphasis on high spatial resolution in the sub--micrometer regime and very low...

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005-03-052005-09-30
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.apsusc.2005.01.101
BibTex Citekey: Butz:2005
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
  Kurztitel : Appl. Surf. Sci.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: - Band / Heft: 252 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 43 - 48 Identifikator: ISSN: 0169-4332
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928576736