Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie

Stroth, U.; Balden, M.; Dörsch, G.; Kremer, K.

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Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie

Stroth, U., Balden, M., Dörsch, G., & Kremer, K. (2019). Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie. Praktikum (WS 2019/2020). Technische Universität München.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-F4CC-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-F4D2-B

資料種別: 教材

その他 : Introduction to Scanning Electron Microscopy

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Stroth, U.¹, 著者
Balden, M.¹, 著者
Dörsch, G.¹, 著者
Kremer, K.¹, 著者

所属:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

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言語: eng - English

日付: 作成: 2019

出版の状態: 不明

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