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  Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie

Stroth, U., Balden, M., Dörsch, G., & Kremer, K. (2019). Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie. Praktikum (WS 2019/2020). Technische Universität München.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-F4CC-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-F4D2-B
Genre: Lehrmaterial
Andere : Introduction to Scanning Electron Microscopy

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stroth, U.1, Autor           
Balden, M.1, Autor           
Dörsch, G.1, Autor           
Kremer, K.1, Autor           
Affiliations:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Praktikum (WS 2019/2020)
Veranstaltungsort: Technische Universität München
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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