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  Lab-scale soft x-ray ptychography: advanced nanoscale imaging and beam diagnostics

Zürch, M., Tuitje, F., Helk, T., Gautier, J., Tissandier, F., Goddet, J.-.-P., Oliva, E., Guggenmos, A., Kleineberg, U., Stiel, H., Sebban, S., & Spielmann, C. (2019). Lab-scale soft x-ray ptychography: advanced nanoscale imaging and beam diagnostics. In Proceedings of SPIE. Bellingham, Washington: SPIE. doi:10.1117/12.2532063.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-1A01-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-DB0A-5
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Zürch, Michael1, 2, 3, 4, 著者           
Tuitje, F.2, 3, 著者
Helk, T.2, 3, 著者
Gautier, J.5, 著者
Tissandier, F.5, 著者
Goddet, J. -P.5, 著者
Oliva, E.6, 著者
Guggenmos, A.4, 7, 著者
Kleineberg, U.7, 著者
Stiel, H.8, 著者
Sebban, S.5, 著者
Spielmann, C.2, 3, 著者
所属:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              
2Institute for Optics and Quantum Electronics, Abbe Center of Photonics, University of Jena, Jena, Germany, ou_persistent22              
3Helmholtz Institute Jena, Jena, Germany, ou_persistent22              
4University of California at Berkeley, Department of Chemistry, Berkeley, USA, ou_persistent22              
5Laboratoire d’optique appliquée, ENSTA-ParisTech, Palaiseau, France, ou_persistent22              
6Departamento de Ingeníeria Energética, ETSI Industriales, Universidad Politécnica de Madrid, Instituto de Fusión Nuclear, Universidad Politecnica de Madrid, Madrid, Spain, ou_persistent22              
7Department for Physics, Ludwig-Maximilian- University Munich, Garching, Germany, ou_persistent22              
8Max-Born Institute Berlin, Berlin, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: X-ray microscopy has proven its advantages for resolving nanoscale objects. High Harmonic Generation (HHG) sources allow performing nanoimaging experiments at the lab scale and their femtosecond pulse duration and synchrony to an optical laser renders them useful for studying dynamic processes. HHG sources regularly provide high average photon flux but relatively low single-shot flux limiting time-resolved applications to adiabatic processes. Here, we show that soft X-ray lasers (SXRL) in turn provide high flux due to an X-ray lasing transition, but the coherence of an SXRL operating in the amplified-spontaneous-emission scheme is limited. The coherence properties of an SXRL seeded by an HHG source can be significantly improved allowing single-shot nanoscale imaging. In combination with ptychography, source properties are measured with high fidelity. This is applied to study the plasma dynamics of SXRL amplification in unprecedented quality.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2019-09-09
 出版の状態: オンラインで出版済み
 ページ: 6
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1117/12.2532063
 学位: -

関連イベント

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イベント名: SPIE Optical Engineering and Applications: X-Ray Lasers and Coherent X-Ray Sources: Development and Applications XIII
開催地: San Diego, Calif., USA
開始日・終了日: 2019-08-11 - 2019-08-15
招待講演: 招待

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Bellingham, Washington : SPIE
ページ: 6 巻号: 11111 通巻号: 111110F 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -