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  Comparison of topography and lateral spectroscopy of semiconductors

Kapitzke, M. (2020). Comparison of topography and lateral spectroscopy of semiconductors. Bachelor Thesis, Freie Universität, Berlin.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-9919-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-991A-2
Genre: Hochschulschrift

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:
kapitzke_Bsc2020.pdf (beliebiger Volltext), 19MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-991B-1
Name:
kapitzke_Bsc2020.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
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-
Copyright Info:
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Lizenz:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kapitzke, Marco1, Autor           
Stähler, Julia1, Gutachter           
Rühl, Eckhard, Gutachter
Flesch, Roman, Gutachter
Affiliations:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2020-01-29
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 49, XI
 Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Freie Universität
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: Bachelor

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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