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  Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM

Henning, A., Reichel, R., Filonenko, O., Hortenbach, H., Falke, M., Beddies, G., et al. (2002). Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM. Poster presented at Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Augsburg, Germany.

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 Creators:
Henning, A1, Author              
Reichel, R, Author
Filonenko, O, Author
Hortenbach, H, Author
Falke, M, Author
Beddies, G, Author
Hinneberg, HJ, Author
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Content

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Details

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Language(s):
 Dates: 2002-03
 Publication Status: Published online
 Pages: -
 Publishing info: -
 Table of Contents: -
 Rev. Type: -
 Identifiers: -
 Degree: -

Event

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Title: Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
Place of Event: Augsburg, Germany
Start-/End Date: 2002-03-19 - 2002-03-22

Legal Case

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