Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM

Henning, A; Reichel, R; Filonenko, O; Hortenbach, H; Falke, M; Beddies, G; Hinneberg, HJ

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Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM

Henning, A., Reichel, R., Filonenko, O., Hortenbach, H., Falke, M., Beddies, G., et al. (2002). Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM. Poster presented at Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Augsburg, Germany.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-9D87-2 Version Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-9D88-1

Genre: Poster

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Creators:
Henning, A¹, Author
Reichel, R, Author
Filonenko, O, Author
Hortenbach, H, Author
Falke, M, Author
Beddies, G, Author
Hinneberg, HJ, Author

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1External Organizations, ou_persistent22

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Dates: Published Online: 2002-03

Publication Status: Published online

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Title: Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

Place of Event: Augsburg, Germany

Start-/End Date: 2002-03-19 - 2002-03-22

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