Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM

Henning, A., Reichel, R., Filonenko, O., Hortenbach, H., Falke, M., Beddies, G., et al. (2002). Strukturuntersuchung von epitaktischen CrSi2 Schichten auf Si(001) mittels TEM. Poster presented at Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Augsburg, Germany.

Item is Freigegeben

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:

Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-9D87-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-9D88-1

Genre: Poster

Dateien

einblenden: Dateien

Externe Referenzen

Urheber

ausblenden:

Urheber:
Henning, A¹, Autor
Reichel, R, Autor
Filonenko, O, Autor
Hortenbach, H, Autor
Falke, M, Autor
Beddies, G, Autor
Hinneberg, HJ, Autor

Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22

Inhalt

Details

ausblenden:

Sprache(n):

Datum: Online veröffentlicht: 2002-03

Publikationsstatus: Online veröffentlicht

Seiten: -

Ort, Verlag, Ausgabe: -

Inhaltsverzeichnis: -

Art der Begutachtung: -

Identifikatoren: -

Art des Abschluß: -

Veranstaltung

ausblenden:

Titel: Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik (AKF) der Deutschen Physikalischen Gesellschaft

Veranstaltungsort: Augsburg, Germany

Start-/Enddatum: 2002-03-19 - 2002-03-22

Entscheidung

Projektinformation

Quelle