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  Electrical characterization of prototype DEPFET detectors for Athena's Wide Field Imager

Bonholzer, M., Andritschke, R., Emberger, V., Meidinger, N., Müller-Seidlitz, J., & Treberspurg, W. (2019). Electrical characterization of prototype DEPFET detectors for Athena's Wide Field Imager. In O. H. W. Siegmund (Ed.), UV, X-RAY, AND GAMMA-RAY SPACE INSTRUMENTATION FOR ASTRONOMY XXI. doi:10.1117/12.2528403.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

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Electrical characterization of prototype DEPFET detectors for Athenas Wide Field Imager.pdf (beliebiger Volltext), 2MB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
Electrical characterization of prototype DEPFET detectors for Athenas Wide Field Imager.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bonholzer, Michael1, Autor           
Andritschke, Robert1, Autor           
Emberger, Valentin1, Autor           
Meidinger, Norbert1, Autor           
Müller-Seidlitz, Johannes1, Autor           
Treberspurg, Wolfgang1, Autor           
Affiliations:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The Wide Field Imager (WFI), one of two complementary instruments on board ESA's next large X-ray mission Athena, combines state-of-the-art resolution spectroscopy with a large field of view and high count rate capability. Centerpiece of the WFI instrument are four DEPFET (Depleted p-channel field effect transistor) sensors with a size of 512_512 pixels each and one fast detector with a size of 64_64 pixels. They are planned to be operated in drain current readout mode, which enables fast readout rates but is sensitive to inhomogeneities of the drain currents. These inhomogeneities arise from the sheer size of the DEPFET sensor matrix and are originated in the spatial distribution of wafer properties and process parameters. We characterized the drain current distribution of a prototype device (64_64 pixels) utilizing the same layout and technology as specified for the pre-flight production of Athena's WFI DEPFET detectors. In order to better understand the origin of the current spread we measured I-V characteristics of all pixels and extracted threshold voltages and transconductance values of the detector in operational conditions. This is enabled by features of the VERITAS read-out ASIC.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2019-09-09
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1117/12.2528403
Anderer: LOCALID: 3221045
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Conference on UV, X-Ray, and Gamma-Ray Space Instrumentation for Astronomy XXI held at SPIE Optical Engineering + Applications Conference
Veranstaltungsort: San Diego, CA
Start-/Enddatum: 2019-08-11 - 2019-08-13

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: UV, X-RAY, AND GAMMA-RAY SPACE INSTRUMENTATION FOR ASTRONOMY XXI
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Siegmund, Oswald H. W., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 11118 Artikelnummer: 111180F Start- / Endseite: - Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Proceedings of SPIE
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 978-1-5106-2929-5
ISBN: 978-1-5106-2930-1
ISSN: 0277-786X