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  A UHV-compatible photoelectron emission microscope for applications in surface science

Engel, W., Kordesch, M. E., Rotermund, H.-H., Kubala, S., & Oertzen, A. v. (1991). A UHV-compatible photoelectron emission microscope for applications in surface science. Ultramicroscopy, 36(1-3), 148-153. doi:10.1016/0304-3991(91)90146-W.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-649F-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-64A1-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Engel, Wilfried1, Autor           
Kordesch, Martin E.2, Autor           
Rotermund, Harm-Hinrich3, Autor           
Kubala, Sven3, Autor           
Oertzen, Alexander von3, Autor           
Affiliations:
1Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
2Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              
3Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: A three-stage electrostatic photoelectron emission microscope (PEEM) for use as an attachment on a UHV surface analysis chamber is described. The PEEM is intended for surface studies with lateral resolution of the order of 0 1 pm where the real-time observation of processes is important.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 1990-08-111990-12-011991-05
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 6
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/0304-3991(91)90146-W
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
  Kurztitel : Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : North-Holland
Seiten: 6 Band / Heft: 36 (1-3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 148 - 153 Identifikator: ISSN: 0304-3991
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925512451