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  X-ray reflectivity measurements at chromium-iridium tri-layer coatings

Stehlikova, V., Döhring, T., Schäfer, T., Stollenwerk, M., Friedrich, P., Burwitz, V., et al. (2019). X-ray reflectivity measurements at chromium-iridium tri-layer coatings. In S. L. O'Dell, & G. Pareschi (Eds.), Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IX. doi:10.1117/12.2530439.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-668C-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0006-668D-9
Genre: Konferenzbeitrag

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:
X-ray reflectivity measurements at chromium-iridium tri-layer coatings.pdf (beliebiger Volltext), 2MB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
X-ray reflectivity measurements at chromium-iridium tri-layer coatings.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stehlikova, Veronika1, Autor           
Döhring, Thorsten, Autor
Schäfer, Tobias, Autor
Stollenwerk, Manfred, Autor
Friedrich, Peter1, Autor           
Burwitz, Vadim, Autor
Hartner, Gisela, Autor
Bradshaw, Miranda, Autor
Liao, Yingyu, Autor
Pelliciari, Carlo, Autor
Affiliations:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Studying astronomical objects in the X-ray regime, iridium-based layer systems are highly effective reflective materials for telescopes mirrors. Aschaffenburg University and the Czech Technical University in Prague jointly developed stress compensated chromium-iridium coatings. To overcome the disturbing reflectivity reduction of the iridium absorption edge around 2 keV photon energy and improve general reflectivity at lower incident energies, thin overcoat layers of chromium have been applied in addition. Corresponding measurements at several X-ray lines have been performed on these samples at the PANTER test facility of the Max-Planck Institute for extraterrestrial Physics. A part of the experimental results and their comparison with theoretical simulations are presented in this contribution.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2019-09-09
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1117/12.2530439
Anderer: LOCALID: 3230990
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: SPIE OPTICAL ENGINEERING + APPLICATIONS
Veranstaltungsort: San Diego, CA
Start-/Enddatum: 2019-08-11 - 2019-08-15

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IX
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
O'Dell, Stephen L., Herausgeber
Pareschi, Giovanni , Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 11119 Artikelnummer: 111191L Start- / Endseite: - Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Proceedings of SPIE
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0277-786X