Component-based quantification of EELS spectrum imaging

Zhang, Siyuan; Scheu, Christina

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Component-based quantification of EELS spectrum imaging

Zhang, S., & Scheu, C. (2019). Component-based quantification of EELS spectrum imaging. Poster presented at IAMNano 2019, Düsseldorf, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-1D6E-F 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-1D6F-E

資料種別: ポスター

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Zhang, Siyuan¹, 著者
Scheu, Christina¹, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294

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言語: eng - English

日付: 作成: 2019-10-27

出版の状態: 不明

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