Impact of operational parameters on single beamlet deflection in a negative ion 
source for NBI applications

Hurlbatt, A.; Bonomo, F.; Orozco, G.; Nocentini, R.; Wimmer, C.

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Impact of operational parameters on single beamlet deflection in a negative ion source for NBI applications

Hurlbatt, A., Bonomo, F., Orozco, G., Nocentini, R., & Wimmer, C. (2020). Impact of operational parameters on single beamlet deflection in a negative ion source for NBI applications. Talk presented at 7th International Symposium on Negative Ions, Beams and Sources (NIBS 2020) (Virtual). 2020-09-01 - 2020-09-10.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-E06A-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-E096-2

資料種別: 講演

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Hurlbatt, A.¹, 著者
Bonomo, F.¹, 著者
Orozco, G.¹, 著者
Nocentini, R.¹, 著者
Wimmer, C.¹, 著者

所属:
1ITER Technology & Diagnostics (ITED), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856290

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2020

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