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  The Relaxed Maximum Entropy Distribution and its Application to Pattern Discovery

Dalleiger, S., & Vreeken, J. (2020). The Relaxed Maximum Entropy Distribution and its Application to Pattern Discovery. In C. Plant, H. Wang, A. Cuzzocrea, C. Zaniolo, & X. Wu (Eds.), 20th IEEE International Conference on Data Mining (pp. 978-983). Piscataway, NJ: IEEE. doi:10.1109/ICDM50108.2020.00112.

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Basisdaten

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Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dalleiger, Sebastian1, Autor
Vreeken, Jilles2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Databases and Information Systems, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_24018              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2020
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: 10 p.
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: dalleiger:20:reaper
DOI: 10.1109/ICDM50108.2020.00112
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 20th IEEE International Conference on Data Mining
Veranstaltungsort: Virtual Conference
Start-/Enddatum: 2020-11-17 - 2020-11-20

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 20th IEEE International Conference on Data Mining
  Kurztitel : ICDM 2020
  Untertitel : Proceedings
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Plant, Claudia1, Herausgeber
Wang, Haixun1, Herausgeber
Cuzzocrea, Alfredo1, Herausgeber
Zaniolo, Carlo1, Herausgeber
Wu, Xidong1, Herausgeber
Affiliations:
1 External Organizations, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 978 - 983 Identifikator: ISBN: 978-1-7281-8316-9