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  Lock-in thermography for analyzing solar cells and failure analysis in other electronic components

Breitenstein, O., & Sturm, S. (2019). Lock-in thermography for analyzing solar cells and failure analysis in other electronic components. Quantitative InfraRed Thermography Journal, 16(3-4), 1-15. doi:10.1080/17686733.2018.1563349.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-0CE5-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-442A-C
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
Breitenstein2019.pdf (Verlagsversion), 3MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-0CE7-6
Name:
Breitenstein2019.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
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Copyright Datum:
2019
Copyright Info:
The Author(s)
Lizenz:
http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://doi.org/10.1080/17686733.2018.1563349 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Breitenstein, Otwin1, Autor
Sturm, Steffen2, Autor
Affiliations:
1Nano-Systems from Ions, Spins and Electrons, Max Planck Institute of Microstructure Physics, Max Planck Society, Weinberg 2, 06120 Halle, DE, ou_3287476              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2019-02-222019
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: P13766
DOI: 10.1080/17686733.2018.1563349
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Quantitative InfraRed Thermography Journal
  Andere : Quantitative infrared thermography journal
  Kurztitel : QIRT journal
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Cachan Cedex : Lavoisier
Seiten: - Band / Heft: 16 (3-4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1 - 15 Identifikator: ISSN: 1768-6733
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1768-6733