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  Extended energy range analysis for angle-resolved time-of-flight photoelectron spectroscopy

Huth, M., Trützschler, A., Chiang, C.-T., Kamrla, R., Schumann, F. O., & Widdra, W. (2018). Extended energy range analysis for angle-resolved time-of-flight photoelectron spectroscopy. Journal of Applied Physics, 124(16): 164504. doi:10.1063/1.5048515.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

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:
1.5048515.pdf (Verlagsversion), 3MB
Name:
1.5048515.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2018
Copyright Info:
The Author(s)

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://doi.org/10.1063/1.5048515 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Huth, Michael1, Autor
Trützschler, Andreas1, Autor
Chiang, Cheng-Tien1, Autor
Kamrla, Robin1, Autor
Schumann, Frank O.1, Autor                 
Widdra, Wolf1, Autor
Affiliations:
1Max Planck Institute of Microstructure Physics, Max Planck Society, ou_2415691              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: An approximation method for electrostatic time-of-flight (ToF) spectroscopy on photoelectrons distributed over a wide energy range is presented. This method is an extension of conventional analysis and aims at specific energy and angular regions, where distinctly different emission angles and energies are mapped to the same ToF and detector position by the spectrometer. The general formulation and the systematic errors are presented, and a practical example is demonstrated for photoelectrons from Ag(001) with kinetic energies of 0.5–25 eV.

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2018-10-232018-10
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: BibTex Citekey: P13657
DOI: 10.1063/1.5048515
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physics
  Kurztitel : J. Appl. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : AIP Publishing
Seiten: - Band / Heft: 124 (16) Artikelnummer: 164504 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0021-8979
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042723401880