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  SMART: An Aberration-Corrected XPEEM/LEEM with Energy Filter

Wichtendahl, R., Fink, R., Kuhlenbeck, H., Preikszas, D., Rose, H., Spehr, R., et al. (1998). SMART: An Aberration-Corrected XPEEM/LEEM with Energy Filter. Surface Review and Letters, 5(6), 1249-1256. doi:10.1142/S0218625X98001584.

Item is

Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wichtendahl, Ralph1, Autor           
Fink, R.2, Autor
Kuhlenbeck, Helmut3, Autor           
Preikszas, D.4, Autor
Rose, H.4, Autor
Spehr, R.4, Autor
Hartel, P.4, Autor
Engel, W.1, Autor
Schlögl, Robert5, Autor           
Freund, Hans-Joachim3, Autor           
Bradshaw, Alexander M.1, Autor           
Lilienkamp, G.6, Autor
Schmidt, Th.6, Autor
Bauer, E.6, Autor
Benner, G.7, Autor
Umbach, E.2, Autor
Affiliations:
1Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              
2Universität Würzburg, Experimentelle Physik II, Germany, ou_persistent22              
3Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              
4Technische Hochschule Darmstadt, Angewandte Physik, Germany, ou_persistent22              
5Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24023              
6Arizona State University, Department of Physics and Astronomy, USA, ou_persistent22              
7LEO Elektronenmikroskopie GmbH, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: A new UHV spectroscopic X-ray photoelectron emission and low energy electron microscope is presently under construction for the installation at the PM-6 soft X-ray undulator beamline at BESSY II. Using a combination of a sophisticated magnetic beam splitter and an electrostatic tetrode mirror, the spherical and chromatic aberrations of the objective lens are corrected and thus the lateral resolution and sensitivity of the instrument improved. In addition a corrected imaging energy filter (a so-called omega filter) allows high spectral resolution (ΔE=0.1 eV) in the photoemission modes and back-ground suppression in LEEM and small-spot LEED modes. The theoretical prediction for the lateral resolution is 5 Å; a realistic goal is about 2 nm. Thus, a variety of electron spectroscopies (XAS, XPS, UPS, XAES) and electron diffraction (LEED, LEEM) or reflection techniques (MEM) will be available with spatial resolution unreached so far.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1998-09-011998
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 8
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1142/S0218625X98001584
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Surface Review and Letters
  Andere : Surf. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Singapore : World Scientific
Seiten: 8 Band / Heft: 5 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1249 - 1256 Identifikator: ISSN: 0218-625X
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925493953