Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Xenon plasma focused ion beam milling for obtaining soft X-ray transparent samples

Mayr, S., Finizio, S., Reuteler, J., Stutz, S., Dubs, C., Weigand, M., et al. (2021). Xenon plasma focused ion beam milling for obtaining soft X-ray transparent samples. Crystals, 11(5): 546. doi:10.3390/cryst11050546.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-D3D9-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-D3DA-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Mayr, S.1, 2, Autor
Finizio, S.1, Autor
Reuteler, J.3, Autor
Stutz, S.1, Autor
Dubs, C.4, Autor
Weigand, M.5, Autor
Hrabec, A.1, 2, 6, Autor
Raabe, J.1, Autor
Wintz, S.1, 7, Autor           
Affiliations:
1Paul Scherrer Institut (PSI), 5232 Villigen, Switzerland, ou_persistent22              
2Laboratory for Mesoscopic Systems, Department of Materials, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland, ou_persistent22              
3Scientific Center for Optical and Electron Microscopy, ETH Zurich, 8093 Zurich, Switzerland, ou_persistent22              
4INNOVENT e.V. Technologieentwicklung Jena, 07745 Jena, Germany, ou_persistent22              
5Helmholtz-Zentrum Berlin, 14109 Berlin, Germany, ou_persistent22              
6Laboratory for Magnetism and Interface Physics, Department of Materials, ETH Zurich, 8093 Zurich, Germany, ou_persistent22              
7Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2021-05-14
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: 7
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.3390/cryst11050546
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Crystals
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Basel, Switzerland : MDPI AG
Seiten: - Band / Heft: 11 (5) Artikelnummer: 546 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 2073-4352
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2073-4352