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  A Novel Shadowgraphic Inline Measurement Technique for Image-Based Crystal Size Distribution Analysis

Wirz, D., Hofmann, M., Lorenz, H., Bart, H.-J., Seidel-Morgenstern, A., & Temmel, E. (2021). A Novel Shadowgraphic Inline Measurement Technique for Image-Based Crystal Size Distribution Analysis. In E. Temmel, & H. Lorenz (Eds.), Advances in Industrial Crystallization (pp. 131-156). Basel, Switzerland: MDPI.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-EC53-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-EC54-0
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wirz, Dominic1, Autor
Hofmann, Marc1, Autor
Lorenz, Heike2, Autor           
Bart, Hans-Jörg1, Autor
Seidel-Morgenstern, Andreas2, 3, Autor           
Temmel, Erik2, 4, Autor           
Affiliations:
1Chair of Separation Science and Technology, TU Kaiserslautern, Gottlieb-Daimler-Straße, 67663 Kaiserslautern, Germany;, ou_persistent22              
2Physical and Chemical Foundations of Process Engineering, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738150              
3Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, External Organizations, ou_1738156              
4Sulzer Chemtech Ltd., Gewerbestraße 28, 4123 Allschwil, Switzerland, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2021
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 26
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.3390/cryst10090740
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Advances in Industrial Crystallization
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Temmel, Erik, Herausgeber           
Lorenz, Heike, Herausgeber           
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: Basel, Switzerland : MDPI
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 131 - 156 Identifikator: DOI: 10.3390/books978-3-0365-0331-8
ISBN: 978-3-0365-0331-8
ISBN: 978-3-0365-0330-1