日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存
一時保存へ追加
 タグ情報を表示リリース履歴を表示詳細要約
  A Novel Shadowgraphic Inline Measurement Technique for Image-Based Crystal Size Distribution Analysis

Wirz, D., Hofmann, M., Lorenz, H., Bart, H.-J., Seidel-Morgenstern, A., & Temmel, E. (2021). A Novel Shadowgraphic Inline Measurement Technique for Image-Based Crystal Size Distribution Analysis. In E., Temmel, & H., Lorenz (Eds.), Advances in Industrial Crystallization (pp. 131-156). Basel, Switzerland: MDPI.

Item is

 

表示: 全項目 非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:
アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-EC53-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-EC54-0
資料種別: 書籍の一部

ファイル

表示: ファイル

関連URL

表示:

作成者

表示:
非表示:
 作成者:
Wirz, Dominic1, 著者
Hofmann, Marc1, 著者
Lorenz, Heike2, 著者           
Bart, Hans-Jörg1, 著者
Seidel-Morgenstern, Andreas2, 3, 著者           
Temmel, Erik2, 4, 著者           
所属:
1Chair of Separation Science and Technology, TU Kaiserslautern, Gottlieb-Daimler-Straße, 67663 Kaiserslautern, Germany;, ou_persistent22              
2Physical and Chemical Foundations of Process Engineering, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738150              
3Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, External Organizations, ou_1738156              
4Sulzer Chemtech Ltd., Gewerbestraße 28, 4123 Allschwil, Switzerland, ou_persistent22              

内容説明

表示:

資料詳細

表示:
非表示:
言語: eng - English
 日付: 2021
 出版の状態: 出版
 ページ: 26
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.3390/cryst10090740
 学位: -

関連イベント

表示:

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:
非表示:
出版物名: Advances in Industrial Crystallization
種別: 書籍
 著者・編者:
Temmel, Erik, 編集者           
Lorenz, Heike, 編集者           
所属:
-
出版社, 出版地: Basel, Switzerland : MDPI
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 131 - 156 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: DOI: 10.3390/books978-3-0365-0331-8
ISBN: 978-3-0365-0331-8
ISBN: 978-3-0365-0330-1