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  Angle-resolved electron–electron and electron–ion coincidence spectroscopy: new tools for photoionization studies

Becker, U. (2000). Angle-resolved electron–electron and electron–ion coincidence spectroscopy: new tools for photoionization studies. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 112(1-3), 47-65. doi:10.1016/S0368-2048(00)00202-4.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Becker, Uwe1, Autor           
Affiliations:
1Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The development of two new experimental methods in gas phase photoionization studies is reviewed. These are angle-resolved electron–electron coincidence spectroscopy and angle-resolved electron–fragment ion coincidence spectroscopy. The review concentrates on systems which employ time-of-flight techniques for both the electron and ion detections. In addition to a technical description of such a system for both methods, showcase examples of their application in synchrotron radiation-based atomic and molecular physics are presented and discussed.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000-11-302000-11
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 19
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/S0368-2048(00)00202-4
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
  Kurztitel : J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: 19 Band / Heft: 112 (1-3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 47 - 65 Identifikator: ISSN: 0368-2048
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925524767