Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  A not-so-brief introduction to atom probe tomography: from fundamentals to atomic-scale insights into engineering materials

Gault, B. (2019). A not-so-brief introduction to atom probe tomography: from fundamentals to atomic-scale insights into engineering materials. Talk presented at Seminar at Imperial College London. London, UK. 2019-02-19.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Gault, Baptiste1, 2, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Imperial College, Royal School of Mines, Department of Materials, London, SW7 2AZ, UK, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-02-19
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: Seminar at Imperial College London
Veranstaltungsort: London, UK
Start-/Enddatum: 2019-02-19

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: