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  Combination of 2D and 3D SEM-based diffraction techniques with various other techniques for understanding of microstructures

Zaefferer, S. (2020). Combination of 2D and 3D SEM-based diffraction techniques with various other techniques for understanding of microstructures. Talk presented at Workshop on correlative microscopy. Chennai, India. 2020-01-31.

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, Stefan1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2020-01-31
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Workshop on correlative microscopy
Veranstaltungsort: Chennai, India
Start-/Enddatum: 2020-01-31
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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