Combination of 2D and 3D SEM-based diffraction techniques with various other 
techniques for understanding of microstructures

Zaefferer, Stefan

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Combination of 2D and 3D SEM-based diffraction techniques with various other techniques for understanding of microstructures

Zaefferer, S. (2020). Combination of 2D and 3D SEM-based diffraction techniques with various other techniques for understanding of microstructures. Talk presented at Workshop on correlative microscopy. Chennai, India. 2020-01-31.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-47AA-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-47AB-7

資料種別: 講演

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Zaefferer, Stefan¹, 著者

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1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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日付: 作成: 2020-01-31

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