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  Fundamentals and Applications of Electron Energy-Loss Spectroscopy in a Scanning Transmission Electron Microscope

Scheu, C., & Hieke, S. W. (2019). Fundamentals and Applications of Electron Energy-Loss Spectroscopy in a Scanning Transmission Electron Microscope. Talk presented at Universita' Roma Tre Colloquium. Roma, Italy. 2019-07-25.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, Christina1, Autor           
Hieke, Stefan Werner1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-07-25
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Universita' Roma Tre Colloquium
Veranstaltungsort: Roma, Italy
Start-/Enddatum: 2019-07-25
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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