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  How stable are thin Aluminium films: Dewetting phenomena observed by in-situ electron microscopy

Scheu, C., & Hieke, S. W. (2019). How stable are thin Aluminium films: Dewetting phenomena observed by in-situ electron microscopy. Talk presented at Microscopy Conference 2019 (MC2019). Berlin, Germany. 2019-09-01 - 2019-09-05.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scheu, Christina1, Autor           
Hieke, Stefan Werner1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2019-09
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy Conference 2019 (MC2019)
Veranstaltungsort: Berlin, Germany
Start-/Enddatum: 2019-09-01 - 2019-09-05
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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