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  Atomic structure of Si(113) 3×1-H by dynamical low-energy electron diffraction intensity spectra analysis

Huang, H., Tong, S., Myler, U., & Jacobi, K. (1994). Atomic structure of Si(113) 3×1-H by dynamical low-energy electron diffraction intensity spectra analysis. Surface Review and Letters, 1(2 & 3), 221-227. doi:10.1142/S0218625X94000229.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-9F10-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-A914-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Huang, H.1, Autor
Tong, S.Y.1, Autor
Myler, U.2, Autor           
Jacobi, Karl3, Autor           
Affiliations:
1Department of Physics and Laboratory for Surface Studies, University of Wisconsin, Milwaukee WI 53201, USA, ou_persistent22              
2Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24021              
3Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: The Si((113) 3×1-H structure has been investigated by a quantitative low-energy electron diffraction intensity analysis. A model with two Si dimers in the unit cell gives best agreement between the calculation and the experimental data. Three-dimensional atomic coordinates have been determined.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1994-04-271994
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 7
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1142/S0218625X94000229
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Surface Review and Letters
  Andere : Surf. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Singapore : World Scientific
Seiten: 7 Band / Heft: 1 (2 & 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 221 - 227 Identifikator: ISSN: 0218-625X
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925493953