Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Effects of Defect Density on Optical Properties Using Correlative Cathodoluminescence and Transmission Electron Microscopy Measurements on Identical PrNbO4 Particles

Changizi, R., Zaefferer, S., Abdellaoui, L., & Scheu, C. (2022). Effects of Defect Density on Optical Properties Using Correlative Cathodoluminescence and Transmission Electron Microscopy Measurements on Identical PrNbO4 Particles. ACS Applied Electronic Materials, 4(4), 2095-2100. doi:10.1021/acsaelm.2c00253.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-5A14-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-16C7-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

einblenden: Dateien
ausblenden: Dateien
:
acsaelm.2c00253.pdf (Verlagsversion), 4MB
Öffnen   Speichern
Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-5A16-9
Name:
acsaelm.2c00253.pdf
Beschreibung:
Open Access
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Öffnen
Copyright Datum:
2022
Copyright Info:
The Authors. Published by American Chemical Society
Lizenz:
https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Changizi, Rasa1, Autor           
Zaefferer, Stefan2, Autor           
Abdellaoui, Lamya1, Autor           
Scheu, Christina1, Autor           
Affiliations:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294              
2Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2022-04-132022-04-26
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 6
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1021/acsaelm.2c00253
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: ACS Applied Electronic Materials
  Andere : ACS appl. electron. mater.
  Kurztitel : ACS AEM
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 4 (4) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 2095 - 2100 Identifikator: ISSN: 2637-6113
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2637-6113