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  Effect of particulate contamination on a silicon pore optic

Bradshaw, M., Burwitz, V., Hartner, G., Langmeier, A., Müller, T., Rukdee, S., Schmidt, T., Girou, D., Vacanti, G., Collon, M. J., & Ferreira, I. (2021). Effect of particulate contamination on a silicon pore optic. In Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy X. doi:10.1117/12.2595711.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-9DC3-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-9DC4-8
資料種別: 会議論文

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Effect of particulate contamination on a silicon pore optic.pdf (全文テキスト（全般）), 2MB
 
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Effect of particulate contamination on a silicon pore optic.pdf
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-
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作成者

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 作成者:
Bradshaw, Miranda1, 著者           
Burwitz, Vadim1, 著者           
Hartner, Gisela1, 著者           
Langmeier, Andreas2, 著者           
Müller, Thomas3, 著者           
Rukdee, Surangkhana4, 著者           
Schmidt, Thomas1, 著者           
Girou, David, 著者
Vacanti, Giuseppe, 著者
Collon, Maximilien J., 著者
Ferreira, Ivo, 著者
所属:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              
2MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159888              
3Center for Astrochemical Studies at MPE, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_1950287              
4Optical and Interpretative Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159895              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: The European Space Agency ATHENA mission is an x-ray observatory that will study the formation of galaxy clusters and the growth of black holes within the energy range of 0.5 to 10 keV. Due for launch in early 2030s, ATHENA will use silicon pore optic (SPO) mirror modules to create the x-ray mirror. The first confocal SPO mirror module (MM) was entered into a preliminary environmental test program for the ATHENA mission. The objective of this program was to determine whether particulate contamination causes loss of effective area for silicon pore optics. The confocal MM under test was manufactured by cosine measurement systems and first tested at MPE’s PANTER x-ray test facility in July 2019. After this campaign, it was contaminated with a total of 2000 ppm in two 1000-ppm-level contamination periods. After each 1000-ppm contamination step, x-ray measurements were made to determine the effective area. The pre- and post-contamination effective area measurements, and the contamination of the optic, were carried out at the PANTER facility. The paper provides an overview of the contamination testing carried out at PANTER, and the corresponding results for each contamination level. We find no measurable degradation in effective area on a 5% level. We also look into the possibilities and limitations for the determination of the effective area within our facility. In future campaigns we plan to reach a 2% accuracy for the determination of the effective area for similar type optics.

資料詳細

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 日付: 2021-08-23
 出版の状態: オンラインで出版済み
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1117/12.2595711
 学位: -

関連イベント

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イベント名: SPIE OPTICAL ENGINEERING + APPLICATIONS
開催地: San Diego, CA
開始日・終了日: 2021-08-01 - 2021-08-05

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy X
種別: 会議論文集
 著者・編者:
O'Dell, Stephen L. , 著者
Gaskin, Jessica A., 著者
Pareschi, Giovanni , 著者
所属:
-
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 11822 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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非表示:
出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
ページ: - 巻号: - 通巻号: 118220H 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0277-786X