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  Ballistic Electron Emission Microscopy on CoSi2/Si(111) Interfaces: Band Structure Induced Atomic-Scale Resolution and Role of Localized Surface States

Reuter, K., Garcia-Vidal, F. J., de Andres, P. L., Flores, F., & Heinz, K. (1998). Ballistic Electron Emission Microscopy on CoSi2/Si(111) Interfaces: Band Structure Induced Atomic-Scale Resolution and Role of Localized Surface States. Physical Review Letters, 81(22), 4963-4966. doi:10.1103/PhysRevLett.81.4963.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-EE72-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-EE73-9
Genre: Zeitschriftenartikel

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:
PhysRevLett.81.4963.pdf (Verlagsversion), 344KB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000A-EE74-8
Name:
PhysRevLett.81.4963.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Öffnen
Copyright Datum:
1998
Copyright Info:
APS
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Reuter, Karsten1, 2, Autor           
Garcia-Vidal, F. J., Autor
de Andres, P. L., Autor
Flores, F., Autor
Heinz, K., Autor
Affiliations:
1Lehrstuhl für Festkörperphysik, Universität Erlangen-Nürnberg, ou_persistent22              
2Universidad Autónoma de Madrid, Spain, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Applying a Keldysh Green's function method it is shown that hot electrons injected from a scanning tunneling microscope tip into a CoSi2/Si(111) system form a highly focused beam due to the silicide band structure. This explains the atomic resolution obtained in recent ballistic electron emission microscopy (BEEM) experiments. Localized surface states in the (2×1) reconstruction are found to be responsible for the also reported anticorrugation of the BEEM current. These results clearly demonstrate the importance of bulk and surface band structure effects for a detailed understanding of BEEM data.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1998-07-211998-11-30
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevLett.81.4963
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
  Kurztitel : Phys. Rev. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y. : American Physical Society
Seiten: 4 Band / Heft: 81 (22) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4963 - 4966 Identifikator: ISSN: 0031-9007
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925433406_1