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  Electrical Characterization of Inhomogeneous and Heterogeneous Systems with Microstructural Periodicity

Maier, J. (2002). Electrical Characterization of Inhomogeneous and Heterogeneous Systems with Microstructural Periodicity. In Electrically Based Microstructural Characterization III (pp. 3-13). Warrendale, PA, USA: Materials Research Society.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-F3DA-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-F3DB-9
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Maier, J.1, Autor           
Affiliations:
1Department Physical Chemistry of Solids (Joachim Maier), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370483              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 41588
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Materials Research Society Fall Meeting
Veranstaltungsort: Boston, Massachusetts, USA
Start-/Enddatum: 2001-11-26 - 2001-11-30

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Electrically Based Microstructural Characterization III
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Warrendale, PA, USA : Materials Research Society
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3 - 13 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Materials Research Society Symposium Proceedings
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 699 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -