Hall potential profiles in the quantum Hall regime measured by a scanning force 
microscope

Ahlswede, E.; Weitz, P.; Weis, J.; von Klitzing, K.; Eberl, K.

Hall potential profiles in the quantum Hall regime measured by a scanning force microscope

Ahlswede, E., Weitz, P., Weis, J., von Klitzing, K., & Eberl, K. (2001). Hall potential profiles in the quantum Hall regime measured by a scanning force microscope. Physica B, 298, 562-566.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-E7A3-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-E7A4-4

資料種別: 学術論文

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Ahlswede, E.^{1, 2}, 著者
Weitz, P.², 著者
Weis, J.^{1, 2}, 著者
von Klitzing, K.², 著者
Eberl, K.³, 著者

所属:
1Scientific Facility Nanostructuring Lab (Jürgen Weis), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370499
2Abteilung v. Klitzing, Former Departments, Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370504
3Former Scientific Facilities, Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370501

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日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 182287
その他: 38511

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出版物名: Physica B

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 298 通巻号: - 開始・終了ページ: 562 - 566 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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