Forays into cryo-atom probe tomography of battery materials

Gault, Baptiste

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Forays into cryo-atom probe tomography of battery materials

Gault, B. (2022). Forays into cryo-atom probe tomography of battery materials. Talk presented at 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices. online. 2022-10-16 - 2022-10-21.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-57DF-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-57E0-6

資料種別: 講演

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Gault, Baptiste^{1, 2}, 著者

所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
2Imperial College, Royal School of Mines, Department of Materials, London, SW7 2AZ, UK, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 作成: 2022-10

出版の状態: 不明

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