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  Focusing Through Scattering Materials Using Deep Neural Networks

Vishniakou, I., & Seelig, J. D. (2020). Focusing Through Scattering Materials Using Deep Neural Networks. In Imaging and Applied Optics Congress, OSA Technical Digest. Optica Publishing Group.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000B-F5A4-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000C-1110-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://opg.optica.org/abstract.cfm?uri=aoms-2020-OTh4B.3 (Zusammenfassung)
Beschreibung:
-
OA-Status:
Keine Angabe

Urheber

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 Urheber:
Vishniakou, Ivan1, Autor           
Seelig, Johannes D.1, Autor                 
Affiliations:
1Max Planck Research Group Neural Circuits, Center of Advanced European Studies and Research (caesar), Max Planck Society, ou_2237639              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Neural networks offer novel approaches for light control in microscopy. We compare different deep neural network architectures for focusing through scattering materials for applications in biological imaging.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2020-07
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Keine Begutachtung
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Adaptive Optics: Analysis, Methods & Systems 2020 / Imaging and Applied Optics Congress
Veranstaltungsort: Washington, DC, United States
Start-/Enddatum: 2020-06-22 - 2020-06-26

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Imaging and Applied Optics Congress, OSA Technical Digest
  Andere : Adaptive Optics: Analysis, Methods & Systems
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Optica Publishing Group
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: OTh4B.3 Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 978-1-943580-77-4