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Zusammenfassung:
Verfahren und Beleuchtungs- und Detektionsvorrichtung zum Optimieren von Parametern eines physikalischen Lichtausbreitungs-Modells, insbesondere eines Lichtausbreitungs-Modells bei der (konfokalen) Laser-Mikroskopie im Rasterverfahren, umfassend die folgenden Schritte: a) Vorhalten eines physikalischen Modells Mucht der Lichtausbreitung in einem optischen System, insbesondere der Lichtausbreitung in einem Mikroskop; b) Einstrahlen einer Eingangs-Lichtverteilung I0 mit einer Beleuchtungseinheit in einen Anregungspfad des optischen Systems; c) Durchqueren der Lichtverteilung Io durch einen Streukörper, wobei der Streukörper in dem Anregungspfad des optischen Systems platziert ist und die Eingangs-Lichtverteilung I0zu einer Transmissions- Lichtverteilung ITR oder zu einer I0 zu einer Reflexions-Lichtverteilung IRE abändert; d) Aufzeichnen der T ransmissions-Lichtverteilung ITR oder Reflexions- Lichtverteilung IRE; e) Übergabe der aufgezeichneten T ransmissions-Lichtverteilung ITR oder Reflexions-Lichtverteilung IRE an das Modell Mucht; f) Berechnung von Transmissions-Verzerrungsparametern VTR des Modells MLicht basierend auf der aufgezeichneten Transmissions- Lichtverteilung ITR, wobei die T ransmissions-Verzerrungsparameter VTR insbesondere den Streukörper charakterisieren.
Zusammenfassung:
The invention relates to a method and illumination and detection device for optimising parameters of a physical light propagation model, in particular a light propagation model in (confocal) laser microscopy in a raster scanning method, comprising the following steps: a) providing a physical model MLicht of the light propagation in an optical system, in particular the light propagation in a microscope; b) shining an input light distribution I0 with an illumination unit into an excitation path of the optical system; c) cutting across the light distribution l0 with a scattering element, wherein the scattering element is positioned in the excitation path of the optical system and the input light distribution I0 is modified to form a transmission light distribution ITR or to form a reflection light distribution IRE ; d) recording the transmission light distribution ITR or reflection light distribution IRE; e) transferring the recorded transmission light distribution ITR or reflection light distribution IRE to the model MLicht; f) calculating transmission distortion parameters VTR of the model MLicht based on the recorded transmission light distribution ITR, wherein the transmission distortion parameters VTR characterise, in particular, the scattering element.
Zusammenfassung:
L'invention concerne un procédé et un dispositif d'éclairage et de détection permettant d'optimiser des paramètres d'un modèle de propagation de lumière physique, en particulier un modèle de propagation de lumière en microscopie (confocale) laser dans un procédé de balayage de trame, comprenant les étapes suivantes : a) fournir un modèle physique MLicht de la propagation de la lumière dans un système optique, en particulier la propagation de la lumière dans un microscope ; b) faire rayonner une distribution de lumière d'entrée I0 avec une unité d'éclairage dans un trajet d'excitation du système optique ; c) couper à travers la distribution de lumière I0 avec un élément de diffusion, l'élément de diffusion étant positionné dans le trajet d'excitation du système optique et la distribution de lumière d'entrée I0 étant modifiée pour former une distribution de lumière de transmission ITR ou pour former une distribution de lumière de réflexion IRE ; d) enregistrer la distribution de lumière de transmission ITR ou la distribution de lumière de réflexion IRE ; e) transférer la distribution de lumière de transmission enregistrée ITR ou la distribution de lumière de réflexion IRE au modèle MLicht ; f) calculer des paramètres de distorsion de transmission VTR du modèle MLicht sur la base de la distribution de lumière de transmission enregistrée ITR, les paramètres de distorsion de transmission VTR caractérisant, en particulier, l'élément de diffusion.
