RR: A Fault Model for Efficient TEE Replication

Dinis, Baltasar; Druschel, Peter; Rodrigues, Rodrigo

doi:10.14722/ndss.2023.2400

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RR: A Fault Model for Efficient TEE Replication

Dinis, B., Druschel, P., & Rodrigues, R. (2023). RR: A Fault Model for Efficient TEE Replication. In Network and Distributed System Security Symposium. Reston, VA: Internet Society. doi:10.14722/ndss.2023.2400.

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-0D77-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-0D79-E

Genre: Konferenzbeitrag

Latex : {RR}: {A} Fault Model for Efficient {TEE} Replication

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Dinis, Baltasar¹, Autor
Druschel, Peter¹, Autor
Rodrigues, Rodrigo², Autor

Affiliations:
1Group P. Druschel, Max Planck Institute for Software Systems, Max Planck Society, ou_2105287
2External Organizations, ou_persistent22