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  Assessment of the Degradation Mechanisms of Cu Electrodes during the CO2 Reduction Reaction

Mom, R. V., Sandoval-Diaz, L.-E., Gao, D., Chuang, C.-H., Carbonio, E. A., Jones, T. E., Arrigo, R., Ivanov, D., Hävecker, M., Roldan Cuenya, B., Schlögl, R., Lunkenbein, T., Knop-Gericke, A., & Velasco Vélez, J. (2023). Assessment of the Degradation Mechanisms of Cu Electrodes during the CO2 Reduction Reaction. ACS Applied Materials and Interfaces, (15), 30052-30059. doi:10.1021/acsami.2c23007.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-D93C-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-D93D-B
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Mom, Rik V.1, 著者
Sandoval-Diaz, Luis-Ernesto1, 著者
Gao, Dunfeng1, 著者
Chuang, Cheng-Hao1, 著者
Carbonio, Emilia A.1, 著者
Jones, Travis E.1, 著者
Arrigo, Rosa1, 著者
Ivanov, Danail1, 著者
Hävecker, Michael2, 著者           
Roldan Cuenya, Beatriz1, 著者
Schlögl, Robert2, 著者           
Lunkenbein, Thomas1, 著者
Knop-Gericke, Axel2, 著者           
Velasco Vélez, Juan2, 著者           
所属:
1external, ou_persistent22              
2Research Department Schlögl, Max Planck Institute for Chemical Energy Conversion, Max Planck Society, ou_3023874              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2023
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: ISI: 001011620800001
DOI: 10.1021/acsami.2c23007
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: ACS Applied Materials and Interfaces
  省略形 : ACS Appl. Mater. Interfaces
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Washington, DC : American Chemical Society
ページ: - 巻号: (15) 通巻号: - 開始・終了ページ: 30052 - 30059 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1944-8244
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1944-8244