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  In-situ STXM Characterization of Cu/Cu2O Electrocatalysts for CO2 Reduction

Zhang, C., Eraky, H., Ingino, P., Obst, M., Wang, J., Higgins, D., & Hitchcock, A. (2023). In-situ STXM Characterization of Cu/Cu2O Electrocatalysts for CO2 Reduction. Melville, NY: AIP Publishing.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-C0CC-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-C0CD-3
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Zhang, C, 著者
Eraky, H, 著者
Ingino, P1, 著者           
Obst, M, 著者
Wang, J, 著者
Higgins, D, 著者
Hitchcock, AP, 著者
所属:
1Max Planck Institute for Biology Tübingen, Max Planck Society, ou_3371681              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Scanning Transmission X-ray microscopy (STXM) is a synchrotron-based soft X-ray spectra-microscopic technique which provides chemically selective imaging via spatially resolved X-ray absorption spectroscopy. In-situ STXM of electrocatalysts provides imaging and spectroscopic information at different time / voltage points in the electrochemical process, which helps to understand the changes of morphology and chemistry that occur under reaction conditions. We have developed in-situ flow electrochemical devices with an electrolyte thickness<2 µm which allow STXM measurements while controlling the electrochemical reaction environment, thus providing a platform for in-situ studies of electrochemical oxidation and reduction processes. Here we report results of in-situ STXM studies on electrochemically generated Cu based catalysts for the CO2 reduction reaction (CO2R). Cu 2p STXM spectromicroscopy was successfully used to monitor the morphology and oxidation state changes in the initially formed Cu/Cu2O nano­ particles as the potential was changed from open circuit to values where CO2 reduction occurs. Ex-situ ptychography was also conducted on the same catalyst nanoparticles to provide spectra-microscopy images with similar chemical analysis but improved spatial resolution.

資料詳細

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言語:
 日付: 2023-09
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 15th International Conference on X-ray Microscopy (XRM 2022)
開催地: Hsinchu, Taiwan
開始日・終了日: 2022-06-19 - 2022-06-22

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: AIP Conference Proceedings
  省略形 : AIP Conf. Proc.
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Melville, NY : AIP Publishing
ページ: 6 巻号: 2990 (1) 通巻号: 020011 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 0094-243X
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928528968