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  Dynamics of Anderson localization in disordered wires

Khalaf, E., & Ostrovsky, P. (2017). Dynamics of Anderson localization in disordered wires. Physical Review B, 96(20):.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-D34E-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-D34F-C
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Khalaf, E., 著者
Ostrovsky, P.1, 著者
所属:
1Max Planck Society, ou_persistent13              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: We consider the dynamics of an electron in an infinite disordered metallic wire. We derive exact expressions for the probability of diffusive return to the starting point in a given time. The result is valid for wires with or without time-reversal symmetry and allows for the possibility of topologically protected conducting channels. In the absence of protected channels, Anderson localization leads to a nonzero limiting value of the return probability at long times, which is approached as a negative power of time with an exponent depending on the symmetry class. When topologically protected channels are present (in a wire of either unitary or symplectic symmetry), the probability of return decays to zero at long time as a power law whose exponent depends on the number of protected channels. Technically, we describe the electron dynamics by the one-dimensional supersymmetric nonlinear sigma model. We derive an exact identity that relates any local dynamical correlation function in a disordered wire of unitary, orthogonal, or symplectic symmetry to a certain expectation value in the random matrix ensemble of class AIII, CI, or DIII, respectively. The established exact mapping from a one-to a zero-dimensional sigma model is very general and can be used to compute any local observable in a disordered wire.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2017
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 735109
ISI: 000414738600001
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Physical Review B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: COLLEGE PK : AMER PHYSICAL SOC
ページ: - 巻号: 96 (20) 通巻号: 201105 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 2469-9950