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  Bias-stress stability of low-voltage p-channel and n-channel organic thin-film transistors on flexible plastic substrates

Bisoyi, S., Zschieschang, U., Kang, M. J., Takimiya, K., Klauk, H., & Tiwari, S. P. (2014). Bias-stress stability of low-voltage p-channel and n-channel organic thin-film transistors on flexible plastic substrates. Organic Electronics, 15(11), 3173-3182.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-CA08-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-CA09-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bisoyi, S., Autor
Zschieschang, U.1, Autor           
Kang, M. J., Autor
Takimiya, K., Autor
Klauk, H.1, Autor           
Tiwari, S. P., Autor
Affiliations:
1Research Group Organic Electronics (Hagen Klauk), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370488              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 698655
ISI: 000344424500070
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Organic Electronics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 15 (11) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3173 - 3182 Identifikator: ISSN: 1566-1199