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  Growth mode and atomic structure of MnSi thin films on Si(111)

Geisler, B., Kratzer, P., Suzuki, T., Lutz, T., Costantini, G., & Kern, K. (2012). Growth mode and atomic structure of MnSi thin films on Si(111). Physical Review B, 86(11): 115428.

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Basisdaten

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Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Geisler, B., Autor
Kratzer, P., Autor
Suzuki, T., Autor
Lutz, T., Autor
Costantini, G.1, Autor           
Kern, K.1, Autor           
Affiliations:
1Department Nanoscale Science (Klaus Kern), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370481              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 Zusammenfassung: Thin films of MnSi(111) in B20 structure formed by reactive epitaxy on Si(111) are studied using scanning tunneling microscopy (STM) and density functional theory calculations. Coexisting root 3 x root 3 structures with high or low corrugation are observed and assigned to different Mn coverage by using a detailed analysis of simulated STM images. Comparison with our interpretation of STM images of films previously grown by codeposition of Mn and Si provides us with evidence that the stacking sequence of Mn and Si lattice planes depends on the growth protocol.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 632957
ISI: 000308866700005
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 86 (11) Artikelnummer: 115428 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 1098-0121