Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Combining PIXE with BS provides more information on paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size

Beck, L., Mayer, M., Silva, T. F., Berthier, C., & Pichon, L. (2023). Combining PIXE with BS provides more information on paint layers: experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Talk presented at 26th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2023) & 18th International Conference on Particle Induce X-ray Emission (PIXE). Toyama. 2023-10-07 - 2023-10-13.

Item is

 

einblenden: alle

Basisdaten

ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-D083-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000D-D084-2
Genre: Vortrag

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

ausblenden:
 Urheber:
Beck, L.1, Autor
Mayer, M.2, Autor                 
Silva, T. F.1, Autor
Berthier, C.1, Autor
Pichon, L.1, Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              

Inhalt

einblenden:

Details

ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2023
 Publikationsstatus: Eingereicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

ausblenden:
Titel: 26th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2023) & 18th International Conference on Particle Induce X-ray Emission (PIXE)
Veranstaltungsort: Toyama
Start-/Enddatum: 2023-10-07 - 2023-10-13

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: