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  On-chip Si/SiOx microtube refractometer

Bernardi, A., Kiravittaya, S., Rastelli, A., Songmuang, R., Thurmer, D. J., Benyoucef, M., et al. (2008). On-chip Si/SiOx microtube refractometer. Applied Physics Letters, 93(9): 094106.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-AE4B-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-AE4C-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bernardi, A., Autor
Kiravittaya, S.1, Autor           
Rastelli, A.1, 2, Autor           
Songmuang, R.1, Autor           
Thurmer, D. J.1, Autor           
Benyoucef, M.1, Autor           
Schmidt, O. G.1, 2, 3, 4, Autor           
Affiliations:
1Former Scientific Facilities, Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370501              
2Department Nanoscale Science (Klaus Kern), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370481              
3Scientific Facility Nanostructuring Lab (Jürgen Weis), Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370499              
4Abteilung v. Klitzing, Former Departments, Max Planck Institute for Solid State Research, Max Planck Society, ou_3370504              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2008
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 409722
ISI: 000258975800090
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 93 (9) Artikelnummer: 094106 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0003-6951