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  Ultrafast spatiotemporal dynamics of a charge-density wave using femtosecond dark-field momentum microscopy

Maklar, J., Walmsley, P., Fisher, I., & Rettig, L. (2023). Ultrafast spatiotemporal dynamics of a charge-density wave using femtosecond dark-field momentum microscopy. In Proceedings of SPIE. Bellingham, Washington: SPIE. doi:10.1117/12.2649985.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-5451-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-5452-7
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Maklar, Julian1, 著者                 
Walmsley, P., 著者
Fisher, I.R., 著者
Rettig, Laurenz1, 著者                 
所属:
1Physical Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_634546              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Understanding phase competition and phase separation in quantum materials requires access to the spatiotemporal dynamics of electronic ordering phenomena on a micro- to nanometer length- and femtosecond timescale. While time- and angle-resolved photoemission (trARPES) experiments provide sensitivity to the femtosecond dynamics of electronic ordering, they typically lack the required spatial resolution. Here, we demonstrate ultrafast dark-field photoemission microscopy (PEEM) using a momentum microscope, providing access to ultrafast electronic order on the microscale. We investigate the prototypical Charge-Density Wave (CDW) compound TbTe3 in the vicinity of a buried crystal defect, demonstrating real- and reciprocal-space configurations combined with a pump-probe approach. We find CDW order to be suppressed in the region covered by the crystal defect, most likely due to locally imposed strain. Comparing the ultrafast dynamics in different areas of the sample reveals a substantially smaller response to optical excitation and faster relaxation of excited carriers in the defect area, which we attribute to enhanced particle-hole scattering and defect-induced relaxation channels.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2023-03-152023-03-15
 出版の状態: 出版
 ページ: 8
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1117/12.2649985
 学位: -

関連イベント

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イベント名: SPIE Opto 2023
開催地: San Francisco, CA, USA
開始日・終了日: 2023-01-28 - 2023-02-03

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Bellingham, Washington : SPIE
ページ: - 巻号: 12419 通巻号: 1241903 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1996-756X