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  Modeling of Surfaces with Fair Reflection Line Pattern

Loos, J., Greiner, G., & Seidel, H.-P. (1999). Modeling of Surfaces with Fair Reflection Line Pattern. In Proceedings Shape Modeling International '99 (pp. 256-263). Piscataway, NJ: IEEE explore.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-6881-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000E-6882-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Loos, Joachim1, Autor
Greiner, Günther1, Autor
Seidel, Hans-Peter1, Autor                 
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1999
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1109/SMA.1999.749349
BibTex Citekey: DBLP:conf/smi/LoosGS99
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 1999 International Conference on Shape Modeling and Applications
Veranstaltungsort: Aizu-Wakamatsu, Japan
Start-/Enddatum: 1999-03-01 - 1999-03-04

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings Shape Modeling International '99
  Kurztitel : SMI 1999
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ : IEEE explore
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 256 - 263 Identifikator: ISBN: 0-7695-0065-X