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  Modulated illumination microscopy: Application perspectives in nuclear nanostructure analysis

Cremer, C., Schock, F., Failla, A. V., & Birk, U. (2024). Modulated illumination microscopy: Application perspectives in nuclear nanostructure analysis. Journal of Microscopy. doi:10.1111/jmi.13297.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-395B-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-395C-B
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Cremer, Christoph1, 2, 3, Autor           
Schock, Florian, Autor
Failla, Antonio Virgilio, Autor
Birk, Udo, Autor
Affiliations:
1Kirchhoff Institute for Physics (KIP), Heidelberg, Germany, ou_persistent22              
2Interdisciplinary Centre for Scientific Computing (IWR), University of Heidelberg, Heidelberg, Germany, ou_persistent22              
3Dept. Bonn: Molecular Spectroscopy, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800285              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2024-04-15
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1111/jmi.13297
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Microscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Hoboken, New Jersey, USA : Wiley-Blackwell
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0022-2720
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954927663105_2