Elastic scattering tomography using MeV ions with sub-micrometer resolution

Mayer, M.; Toussaint, U. von; Balden, M.; Silva, T. F.; Rodrigues, C. L.

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Elastic scattering tomography using MeV ions with sub-micrometer resolution

Mayer, M., Toussaint, U. v., Balden, M., Silva, T. F., & Rodrigues, C. L. (2024). Elastic scattering tomography using MeV ions with sub-micrometer resolution. Talk presented at 16th conference of COmputer Simulation of IRradiation Effects in Solids (COSIRES 2024). Kingston, ON. 2024-06-16 - 2024-06-21.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-6F88-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-6F89-B

資料種別: 講演

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Mayer, M.¹, 著者
Toussaint, U. von², 著者
Balden, M.¹, 著者
Silva, T. F.³, 著者
Rodrigues, C. L.³, 著者

所属:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327
2Numerical Methods in Plasma Physics (NMPP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856344
3External Organizations, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2024

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