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  Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size

Beck, L., Mayer, M., Silva, T. F., Berthier, C., & Pichon, L. (2024). Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 555:. doi:10.1016/j.nimb.2024.165468.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-9AD7-1 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-A8AA-4
資料種別: 学術論文

ファイル

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:
beck_combining.pdf (付録資料), 4MB
 
ファイルのパーマリンク:
-
ファイル名:
beck_combining.pdf
説明:
-
OA-Status:
閲覧制限:
非公開
MIMEタイプ / チェックサム:
application/pdf
技術的なメタデータ:
著作権日付:
-
著作権情報:
-
CCライセンス:
-
:
Beck_Combining.pdf (全文テキスト（全般）), 2MB
 
ファイルのパーマリンク:
-
ファイル名:
Beck_Combining.pdf
説明:
-
OA-Status:
閲覧制限:
制限付き (公開猶予期限 2025-07-15) (Max Planck Institute for Plasma Physics, MPPL; )
MIMEタイプ / チェックサム:
application/pdf
技術的なメタデータ:
著作権日付:
-
著作権情報:
-
CCライセンス:
-

関連URL

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URL:
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468 (出版社版)
説明:
-
OA-Status:
Not specified

作成者

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 作成者:
Beck, L.1, 著者
Mayer, M.2, 著者                 
Silva, T. F.1, 著者
Berthier, C.1, 著者
Pichon, L.1, 著者
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              

内容説明

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キーワード: Konferenzbeitrag
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 20242024
 出版の状態: 出版
 ページ: 7 p.
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1016/j.nimb.2024.165468
 学位: -

関連イベント

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
  省略形 : NIM B
  副タイトル : 26th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2023) & 18th International Conference on Particle Induce X-ray Emission (PIXE)
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Amsterdam : Elsevier B.V.
ページ: - 巻号: 555 通巻号: 165468 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0168-583X
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925484704