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  Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size

Beck, L., Mayer, M., Silva, T. F., Berthier, C., & Pichon, L. (2024). Combining PIXE and EBS for the analysis of paint layers: Experiment and simulation highlight the influence of the pigment grain size. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 555: 165468. doi:10.1016/j.nimb.2024.165468.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-9AD7-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-A8AA-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
beck_combining.pdf (Ergänzendes Material), 4MB
 
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-
Name:
beck_combining.pdf
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Privat
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
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:
Beck_Combining.pdf (beliebiger Volltext), 2MB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
Beck_Combining.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Embargo bis 2025-07-15) (Max Planck Institute for Plasma Physics, MPPL; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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externe Referenz:
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165468 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:
Keine Angabe

Urheber

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 Urheber:
Beck, L.1, Autor
Mayer, M.2, Autor                 
Silva, T. F.1, Autor
Berthier, C.1, Autor
Pichon, L.1, Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              

Inhalt

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Schlagwörter: Konferenzbeitrag
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 20242024
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 7 p.
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.nimb.2024.165468
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
  Kurztitel : NIM B
  Untertitel : 26th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2023) & 18th International Conference on Particle Induce X-ray Emission (PIXE)
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: - Band / Heft: 555 Artikelnummer: 165468 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0168-583X
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925484704