A scale bridging approach for analysis of extended defects in thermoelectric 
materials: From electron channeling contrast imaging, scanning transmission 
electron microscopy to atom probe tomography

Scheu, Christina; Abdellaoui, Lamya; Bueno Villoro, Ruben; Cojocaru-Mirédin, Oana; Gault, Baptiste; Luo, Ting; Jung, Chanwon; Yu, Yuan; Zaefferer, Stefan; Zhang, Siyuan

A scale bridging approach for analysis of extended defects in thermoelectric materials: From electron channeling contrast imaging, scanning transmission electron microscopy to atom probe tomography

Scheu, C., Abdellaoui, L., Bueno Villoro, R., Cojocaru-Mirédin, O., Gault, B., Luo, T., Jung, C., Yu, Y., Zaefferer, S., & Zhang, S. (2022). A scale bridging approach for analysis of extended defects in thermoelectric materials: From electron channeling contrast imaging, scanning transmission electron microscopy to atom probe tomography. Talk presented at ELMINA2022. Belgrade, Serbia. 2022-08-22 - 2022-08-26.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-EC44-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-EC45-A

資料種別: 講演

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Scheu, Christina¹, 著者
Abdellaoui, Lamya¹, 著者
Bueno Villoro, Ruben¹, 著者
Cojocaru-Mirédin, Oana², 著者
Gault, Baptiste³, 著者
Luo, Ting³, 著者
Jung, Chanwon¹, 著者
Yu, Yuan⁴, 著者
Zaefferer, Stefan⁵, 著者
Zhang, Siyuan¹, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2I. Physikalisches Institut (IA), RWTH Aachen, 52074 Aachen, Germany, ou_persistent22
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
4RWTH Aachen University, I. Physikalisches Institut IA, 52056 Aachen, Germany, ou_persistent22
5Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2022-08-22

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