Using STED microscopy to probe synapse architecture.

Fouquet, W.; Owald, D.; Mertel, S.; Kellner, R.; Dyba, M.; Sigrist, S. J.

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Using STED microscopy to probe synapse architecture.

Fouquet, W., Owald, D., Mertel, S., Kellner, R., Dyba, M., & Sigrist, S. J. (2009). Using STED microscopy to probe synapse architecture. Journal of Neurogenetics, 23:, S37-S37.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0012-D9F7-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-EE62-5

資料種別: 会議論文

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Fouquet, W., 著者
Owald, D., 著者
Mertel, S., 著者
Kellner, R.¹, 著者
Dyba, M.¹, 著者
Sigrist, S. J., 著者

所属:
1Department of NanoBiophotonics, MPI for biophysical chemistry, Max Planck Society, ou_578627

内容説明

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 474792

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Neurogenetics

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 23 通巻号: V15 開始・終了ページ: S37 - S37 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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